FEI

FEI Czech Republic s.r.o.
Základní údaje
Datum založení	8. září 1992
Sídlo	Brno, Česko
Adresa sídla	Hillsboro, 971 24, USA
Charakteristika firmy
Produkty	elektronové mikroskopy
Obrat	▲ 8,3 mld. Kč (2015)
Výsledek hospodaření	▼ 257 mil. Kč (2015)
Celková aktiva	▲ 4,5 mld. Kč (2015)
Vlastní kapitál	▲ 2,8 mld. Kč (2015)
Zaměstnanci	▲ 950 (2018)
Mateřská společnost	FEI CPD B.V. (100%)
Identifikátory
IČO	46971629
LEI	ENU6JE4QCEWJ9YIZ4340
	Některá data mohou pocházet z datové položky.

FEI Company
Základní údaje
Právní forma	nadnárodní
Datum založení	1971
Zakladatelé	Lynwood Swanson, Noel Martin
Sídlo	Hillsboro, Oregon, USA
Adresa sídla	Hillsboro, 971 24, USA
Souřadnice sídla	45°32′48,84″ s. š., 122°55′40,8″ z. d.
Klíčoví lidé	Dr. Don R Kania, Prezident společnosti a CEO; Tony Trunzo, Výkonný viceprezident a CFO
Charakteristika firmy
Oblast činnosti	Vědecké a technické nástroje – elektronové mikroskopy
Produkty	FIB – fokusovaný iontový paprsek ; Rastrovací elektronové mikroskopy ; Transmisní elektronové mikroskopy; Micro Computing Tomography
Obrat	▼ 930 mil. USD (2015)
Provozní zisk	156,2 mil. $ (2013)
Výsledek hospodaření	▲ 124 mil. USD (2015)
Celková aktiva	▼ 1,4 mld. USD (2015)
Zaměstnanci	3,060 (2015)
Identifikátory
Oficiální web	www.fei.com
LEI	ENU6JE4QCEWJ9YIZ4340
	Některá data mohou pocházet z datové položky.

FEI Company je společnost zabývající se vývojem a výrobou elektronových mikroskopů, byla založena v roce 1971. V současnosti jde o vedoucího dodavatele^[3] elektronově a iontově optických zařízení pro širokou škálu výzkumníků, vývojářů i výrobců pracujících v nanometrech. Hlavními odběrateli jsou organizace působící v oblastech:

výzkumu a vývoje – 3D nanocharakterizace, 3D nanoprototypování, in situ nanoprocesy
přírodních věd – biomateriály, molekulární biologie, strukturální biologie, systémová biologie
elektroniky – 3D metrologie, editování integrovaných obvodů, analýza defektů elektronických součástek
průmyslu – automatizovaná mineralogie, kriminalistika, metalurgie, metrologie

Nástroje vyráběné FEI umožňují za pomoci elektronů, rentgenového záření a iontů analyzovat a manipulovat s částmi hmoty menšími než je hodnota jednoho angströmu, tedy menšími, než vlnová délka světla (na úrovni velikosti atomů). Nástroje FEI kombinují iontnová a elektronová záření (DualBeam™ systém (SDB)), poskytují 3D obraz a zjednodušují manipulovatelnost se vzorkem. FEI vyvíjí rastrovací (SEM) a transmisní (TEM) elektronové mikroskopy a X-ray mikro tomografy (mikro CT) . Hlavní výzkumná střediska FEI sídlí v Severní Americe (Hillsboro – Oregon, USA) a v Evropě (Brno – Česká republika, Eindhoven – Nizozemí) a prodávají svá zařízení do více než 50 zemí celého světa.

Jednou z důležitých dceřiných společností je FEI Czech Republic s.r.o. (dříve DELMI,spol. s r.o. a Philips Electron Optics Česká republika s.r.o.) se sídlem v Brně.

Historie

FEI ve světě

1949 - Philips Electron Optics uvádí na trh jako první na světě komerční využitelný transmisní elektronový mikroskop (TEM).
1958 - Philips Electron Optics prolomil hranici dosavadní viditelnosti 10 Ångströmů pomocí TEM EM200.
1971 – Založena společnost FEI, aby poskytovala vysoce čisté, orientované monokrystalické materiály pro výzkum autoemise.
1981 – FEI rozvíjí (LMI – liquid metal ion source – iontový zdroj na bázi tekutého kovu)
1982 - FEI prodává první tubuss iontovým svazkem používající zdroj na bázi tekutého kovu
1983 - FEI prodává první tubus s elektrostaticky fokusovaným svazkem
Micrion is founded to develop ion beam systems for mask repair.)elektronový paprsek. Micrion se zaměřuje na rozvoj iontového paprsku pro opravu masek. Je založen Micrion, který vyvíjí systémy s iontovým svazkem pro opravy masek
1985 – Micrion, vyvíjející systémy s iontovým svazkem pro opravy masek, prodává své první systémy.
1989 - FEI prodává první kompletní FIB (zaostřený iontový svazek) pracovní stanici.
1990 - Philips Electron Optics uvádí na trh SEM pro šestipalcové polovodičové substráty.
1993 - První pracovní stanice DualBeam™ (zkřížený svazek elektronů a iontů pro diagnostiku struktur a jejich opracování včetně schopnosti vytvořit vzorek pro transmisní mikroskop, odprášení části vzorku a pohled do nitra vzorku) (FIB/SEM) produkovaná FEI a Philips Electron Optics.
1995 - FEI prodává stou FIB pracovní stanici.
1996 - FEI prodává pětitisící zdroj LMI. Micrion vydává svoji sérii 8000 FIB.
1996 - Philips Electron Optics získává se společností ElectroScan také jejich technologii ESEM (schopnosti zobrazit jakýkoliv vzorek bez jeho předběžné úpravy včetně dynamických experimentů, dobrých izolantů atd).
1996 - Philips Electron Optics získává Delmi Brno.
1997 - FEI a Philips Electron Optics fúzují. Vzniká první in-line DualBeam Spojení elektronového a iontového tubusu (svazku) v jednom zařízení
1998 - FEI a Micrion nezávisle na sobě nabízejí membránový ořez pro výpočetní průmysl (zálohování dat)
1998 - Představen TEM (Tecnai) vše v jednom.
1999 - FEI získává společnost Micrion Corporation a integruje její produktovou řadu.
2000 - Představena první malá stanice DualBeam.
2001 - FEI představuje DualBeam systém pro laboratoře.
2001 - První monochromátor (přístroj vyčleňující úzký obor vlnových délek z širšího spektra elektromagnetického vlnění) TEM. První TEM s monochromátorem – elektronovým svazkem s minimalizovaným rozptylem energie primárních elektronů
2002 - FEI získává společnost Atomika (SIMS).
2003 - FEI získává společnost Revise Inc.
2003 - FEI získává společnost Emispec.
2004 - FEI prolamuje dosavadní bariéru^[zdroj?] rozlišení 1 angström s přístrojem 200kV Tecnai™.
2005 - FEI představuje transmisní elektronový mikroskop Titan se subangströmovým rozlišením
2006 - Korigovaný transmisní elektronový mikroskop prolamuje hranici 0,5 angströmu
2008 - FEI představuje Magellan, rastrovací elektronový mikroskop s extrémně vysokým rozlišením
2011 - FEI získává Till Photonic, Mnichov, Německo (světelné mikroskopy)
2012 - FEI získává společnost Aspex, Pittsburgh, USA
2012 - FEI získává společnost Visualisation Sciences Group, Boedeaux, Francie (3D vizualizační software)
2014 - FEI získává společnost Lithicon (Trondheim, Norsko a Canberra, Austrálie)
2014 - FEI otevírá nové Technologické centrum v Brně
2016 - FEI otevírá nové školící centrum pro servisní techniky a zákazníky z celého světa v Brně

Produkty FEI v Brně

Brněnská pobočka FEI je poměrně úzce zaměřena na elektronové mikroskopy a FIB:

Tři základní typy transmisních mikroskopů (Morgagni, Tecnai Spirit a Tecnai 20, určeny 200kV, 120kV a 100kV mikroskopy), určeny většinou pro biologické aplikace.
Tři základní rodiny rastrovacích mikroskopů (Quanta, Magellan, Nova NanoSEM).
Přístroje se dvěma svazky elektronů a iontů (DualBeam) spojující SEM a FIB (Quanta, Quanta 3D FEG). Viz [1]
Moduly urychlovacích vysokonapěťových zdrojů od 30kV do 300kV (se stabilitou 10ppm resp lepší než 1ppm). Na stabilitě a přesnosti energetického zdroje záležela i stabilita a přesnost mikroskopu.
Autoemisní trysky pro rastrovací mikroskopy.
Iontové tubusy pro použití v zařízeních DualBeam, které vytvářejí a fokusují svazek iontů gallia na preparátu velikosti stopy a průměru několik nanometrů pro zobrazení pomocí iontů.

Rok	Typ přístroje	Vyrábí se v současnosti	Specifikace	Typ
1993	EM208	ne	První (TEM) přístroj vůbec	TEM
1996	EM208S	ne	Inovovaná verze původního přístroje s motorizovanými posuvy	TEM
1997	XL30TMP	ne	První SEM přístroj, nárůst aktivit	SEM
1998	XL30ESEM	ne	První přístroj s ESEM technologií	SEM
2000	XL40ESEM	ne	První ESEM se stolkem 150x150mm	SEM
2000	Morgagni	ne	Radikálně přepracovaná verze rutinního TEM se zabudovanou digitální kamerou	TEM
2001	Quanta	ne	Nová rodina rutiních SEM s možností zobrazit a analyzovat jakýkoliv vzorek	SEM
2002	Quanta HV	ne	Vysokovakuová verze nové rodiny	SEM
2003	Quanta FEG	ne	První přístroj a autoemisní katodou s nejširším zaběrem použitých detekcí a technologií	SEM
2003	Quanta 3D	ne	První SDB s ESEM technologií	SDB
2004	Tecnai G2 Spirit	ano	Transmisní mikroskop 120kV pro široké využití	TEM
2004	Tecnai G2 20	ano	Transmisní mikroskop 200kV pro široké využití	TEM
2005	Nova NanoSEM	ano	První ultravysokorozlišovací SEM	SEM
2005	Quanta MkII	ano	Inovace řady Quanta	SEM
2005	Inspect	ano	Rutinní přístroj určený především pro kontrolní účely	SEM
2006	Quanta FEG MKII	ano	Inovace rady Quanta FEG	SEM
2007	Quanta 3D FEG	ne	Nový SDB střední třídy s ESEM technologií a autoemisní tryskou	SDB
2007	Tecnai G2 30	ano	Transmisní mikroskop 300kV pro široké využití	TEM
2008	Versa 3D	ano	Dual Beam s ESEM, FEI představuje nejuniverzálnější Dual Beam nástroj k dnešnímu dni.	SBD
2008	Magellan	ne	První SEM s extrémně vysokým rozlišením	SEM
2008	Quanta 3D 200i	ne	Inovace řady Quanta 3D	SDB
2011	Helios DualBeam	ano	Helios nalolab dualbeam XHR (extrémně vysoké rozlišení)	SBD
2012	Verios XHR SEM	ano	Verios je druhá generace přístroje Magellan, vede XHR (extrémní vysoké rozlišení) SEM rodiny.	SEM
2013	Talos	ano	Talos je nová generace v TEM, umožňojuje rychlý přístup k 2D a 3D dat.	TEM
2013	Scios Dualbeam	ano	ultra-vysokým rozlišením analytický systém Dual Beam, který poskytuje vynikající 2D a 3D, včetně magnetického materiálu.	SDB
2014	Teneo UHR SEM	ano	Ultra vysoké rozlišení obrazu a vysokou propustností analytická výkonnost	SEM
2014	Aspex Explorer	ano	SEM přístroj pro průmysl kontrolou kvality	SEM

Trhy FEI Czech Republic, s.r.o.

Cca 50 % výrobků je distribuováno na evropském trhu nebo přes evropský trh servisováno. Pokrývá Rusko, Latinskou Ameriku, Arabský svět a Indii.
Cca 20–30 % výrobků je distribuováno do USA a Kanady.
Cca 20–30 % výrobků do zemí: Japonsko, Čína, Tchaj-wan, Korea, Malajsie, Thajsko.